| Beeldbank van Stichting Behoud Erfgoed NLR (SBEN) |
|
|
Klik op bovenstaande afbeelding voor een 100% weergave |
|
| Database nr. | : | 00222 |
|---|---|---|
| Titel | : | Elektronenmicroscoop Philips EM 75 / electron microscope Philips EM 75 |
| Instituut | : | NLR |
| Locatie | : | Marknesse |
| Datering | : | onbekend |
| Bijzonderheden | : | Microscopisch onderzoek draagt sterk bij aan de kennis van en inzicht in het vermoeiingsverschijnsel. In 1964 werd bij het NLR de eerste elektronenmicroscoop in gebruik genomen. In vele materialen vertoont een vermoeiingsbreukvlak zogenaamde groeilijnen of “striations”. Deze zijn een hulp bij het herkennen van vermoeiing bij schade- en ongevallenonderzoek. Een elektronenmicroscoop wordt gebruikt om details van het breukvlak van metaallegeringen te onderzoeken. Door de enorme vergroting van het beeld is het mogelijk om de groei van de vermoeiingsschade vast te stellen als gevolg van de periodieke belasting. High-power microscopy has contributed greatly to the knowledge about fatigue cracking. In 1964 the NLR obtained its first electron microscope. This enabled detailed observations of fatigue fracture surfaces, in particular the “striations” characteristic of cyclic crack growth. Striations are diagnostic for fatigue, and are therefore important for damage and failure analysis (now often called forensic engineering). An electron microscope is used to study the micro-structure of metal alloys surfaces. The enormous magnification of the microscope allows to determine the growth of the fatigue damage as the result of the periodic loading. |
| Fotograaf | : | |
| Collectienaam | : | |
| Rubriek | : | Constructies en materialen |
| Subrubriek | : | Schade- en ongevallenonderzoek |
| Categorie | : | Foto: z/w |
| Achterkant afbeelding | : | |
| Afmetingen | : | |
| Rapportnummer | : | |
|
|
||
Record aangepast: 11 april 2018